Micròmetres d'etapa, escales de calibratge, reixetes
Descripció del producte
Els micròmetres de platina, els regles de calibratge i les retícules s'utilitzen habitualment en microscòpia i altres aplicacions d'imatge per proporcionar escales de referència estàndard per a la mesura i el calibratge. Aquests dispositius es col·loquen normalment directament a la platina del microscopi i s'utilitzen per caracteritzar l'augment i les propietats òptiques del sistema.
Un micròmetre de platina és un petit portaobjectes de vidre que conté una quadrícula de línies traçades amb precisió a un espai conegut. Les quadrícules s'utilitzen sovint per calibrar l'augment dels microscopis per permetre mesures precises de la mida i la distància de les mostres.
Els regles i les reixetes de calibratge són similars als micròmetres de platina, ja que contenen una reixeta o un altre patró de línies delineades amb precisió. Tanmateix, poden estar fets d'altres materials, com ara metall o plàstic, i varien en mida i forma.
Aquests dispositius de calibratge són fonamentals per mesurar amb precisió mostres al microscopi. Mitjançant l'ús d'una escala de referència coneguda, els investigadors poden garantir que les seves mesures siguin precises i fiables. S'utilitzen habitualment en camps com la biologia, la ciència de materials i l'electrònica per mesurar la mida, la forma i altres propietats de les mostres.
Presentem les reixetes de calibratge de micrometres Stage: una solució innovadora i fiable per garantir mesures precises en una àmplia varietat d'indústries. Amb una gamma d'aplicacions diferents, aquest producte increïblement versàtil ofereix una precisió i una comoditat inigualables, convertint-lo en una eina essencial per a professionals en camps com la microscòpia, la imatge i la biologia.
Al cor del sistema hi ha el micròmetre de platina, que proporciona punts de referència graduats per calibrar eines de mesura com ara microscopis i càmeres. Aquests micròmetres duradors i d'alta qualitat vénen en una varietat de mides i estils per satisfer les necessitats de diferents indústries, des de simples escales d'una sola línia fins a quadrícules complexes amb múltiples creus i cercles. Tots els micròmetres estan gravats amb làser per a una major precisió i presenten un disseny d'alt contrast per facilitar-ne l'ús.
Una altra característica clau del sistema és l'escala de calibratge. Aquestes escales, acuradament elaborades, proporcionen una referència visual per a les mesures i són una eina essencial per calibrar equips de mesura com ara platines de microscopi i platines de translació XY. Les escales estan fetes de materials d'alta qualitat per garantir la durabilitat i la longevitat, i estan disponibles en diverses mides per satisfer els requisits de les diferents aplicacions.
Finalment, GRIDS proporciona un punt de referència important per a mesures de precisió. Aquestes quadrícules vénen en una gamma de patrons diferents, des de quadrícules simples fins a creus i cercles més complexos, proporcionant una referència visual per a mesures precises. Cada quadrícula està dissenyada per a la seva durabilitat amb un patró gravat amb làser d'alt contrast per a una precisió superior.
Un dels principals avantatges del sistema STAGE MICROMETERS CALIBRATION SCALES GRIDS és la seva comoditat i versatilitat. Amb una gamma de diferents micròmetres, escales i reixetes per triar, els usuaris poden triar la combinació perfecta per a la seva aplicació específica. Tant al laboratori, al camp o a la fàbrica, el sistema ofereix la precisió i la fiabilitat que exigeixen els professionals.
Així doncs, si busqueu una solució fiable i d'alta qualitat per a les vostres necessitats de mesura, no busqueu més enllà de les reixetes de calibratge de micròmetres Stage. Amb la seva precisió, durabilitat i comoditat excepcionals, aquest sistema segur que es convertirà en una eina valuosa en el vostre arsenal professional.




Especificacions
Substrat | B270 |
Tolerància dimensional | -0,1 mm |
Tolerància de gruix | ±0,05 mm |
Planitud superficial | 3(1)@632.8nm |
Qualitat de la superfície | 40/20 |
Amplada de línia | 0,1 mm i 0,05 mm |
Vores | Rectificat, 0,3 mm màx. Bisell d'amplada completa |
Obertura clara | 90% |
Paral·lelisme | <45” |
Revestiment
| Crom opac d'alta densitat òptica, pestanyes <0,01% @ longitud d'ona visible |
Àrea transparent, AR R <0,35% a la longitud d'ona visible |