Micròmetres d'etapa escales de calibratge graelles
Descripció del producte
Els micròmetres d'etapa, les regles de calibratge i les quadrícules s'utilitzen habitualment en microscòpia i altres aplicacions d'imatge per proporcionar escales de referència estàndard per a la mesura i el calibratge. Aquests dispositius normalment es col·loquen directament a l'escenari del microscopi i s'utilitzen per caracteritzar l'ampliació i les propietats òptiques del sistema.
Un micròmetre d'escenari és un petit portaobjectes de vidre que conté una graella de línies marcades amb precisió a un espai conegut. Sovint s'utilitzen quadrícules per calibrar l'ampliació dels microscopis per permetre mesures precises de la mida i la distància de les mostres.
Les regles i les quadrícules de calibratge són similars als micròmetres d'etapa perquè contenen una quadrícula o un altre patró de línies delineades amb precisió. No obstant això, poden estar fets d'altres materials, com ara metall o plàstic, i variar en mida i forma.
Aquests dispositius de calibratge són fonamentals per mesurar amb precisió les mostres al microscopi. Mitjançant una escala de referència coneguda, els investigadors poden assegurar-se que les seves mesures són precises i fiables. S'utilitzen habitualment en camps com la biologia, la ciència dels materials i l'electrònica per mesurar la mida, la forma i altres propietats dels exemplars.
Presentem les graelles d'escala de calibració de micròmetres d'etapa: una solució innovadora i fiable per garantir mesures precises en una gran varietat d'indústries. Amb una gamma d'aplicacions diferents, aquest producte increïblement versàtil ofereix una precisió i comoditat inigualables, el que el converteix en una eina essencial per als professionals en camps com la microscòpia, la imatge i la biologia.
Al cor del sistema hi ha el micròmetre d'escenari, que proporciona punts de referència graduats per calibrar eines de mesura com microscopis i càmeres. Aquests micròmetres duradors i d'alta qualitat tenen una varietat de mides i estils per satisfer les necessitats de diferents indústries, des de simples escales d'una sola línia fins a quadrícules complexes amb múltiples creus i cercles. Tots els micròmetres estan gravats amb làser per a la seva precisió i presenten un disseny d'alt contrast per facilitar-ne l'ús.
Una altra característica clau del sistema és l'escala de calibratge. Aquestes escales curosament elaborades proporcionen una referència visual per a les mesures i són una eina essencial per calibrar equips de mesura com ara les etapes de microscopi i les etapes de translació XY. Les bàscules estan fetes de materials d'alta qualitat per garantir la durabilitat i la longevitat, i estan disponibles en diverses mides per satisfer els requisits de diferents aplicacions.
Finalment, GRIDS proporciona un punt de referència important per a mesures de precisió. Aquestes quadrícules es presenten en una varietat de patrons diferents, des de quadrícules simples fins a creus i cercles més complexos, proporcionant una referència visual per a mesures precises. Cada graella està dissenyada per a la durabilitat amb un patró gravat amb làser d'alt contrast per a una precisió superior.
Un dels principals avantatges del sistema GRIDS DE BÀSQUES DE CALIBRACIÓ DE MICRÒMETRES DE ETAPA és la seva comoditat i versatilitat. Amb una gamma de micròmetres, escales i quadrícules diferents per triar, els usuaris poden triar la combinació perfecta per a la seva aplicació específica. Ja sigui al laboratori, al camp o a la fàbrica, el sistema ofereix la precisió i la fiabilitat que demanen els professionals.
Per tant, si busqueu una solució fiable i d'alta qualitat per a les vostres necessitats de mesura, no busqueu més que les graelles de regles de calibració de micròmetres d'etapa. Amb la seva precisió, durabilitat i comoditat excepcionals, aquest sistema segur que es convertirà en una eina valuosa al vostre arsenal professional.
Especificacions
Substrat | B270 |
Tolerància dimensional | -0,1 mm |
Tolerància al gruix | ± 0,05 mm |
Planitud de la superfície | 3(1)@632,8nm |
Qualitat de la superfície | 40/20 |
Amplada de línia | 0,1 mm i 0,05 mm |
Vores | Terra, 0,3 mm màxim. Bisell d'amplada total |
Abertura clara | 90% |
Paral·lelisme | <45" |
Revestiment
| Crom opac d'alta densitat òptica, pestanyes <0,01% @ Longitud d'ona visible |
Àrea transparent, AR R<0,35% @ Longitud d'ona visible |